安捷伦逻辑分析仪实现DDR4设计探量

安捷伦内插器结合逻辑分析仪实现DDR4设计探量

安捷伦科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣布推出两套内插器解决方案，可结合使用全球最快的逻辑分析仪，对 DDR4 和 DDR3 DRAM 设计进行测试。这两套内插器解决方案可快速而准确地撷取位元位址、指令和资料讯号，以进行设计除错并验证量测。

Agilent W4633A BGA 内插器结合Agilent E5849A 探棒，可探量资料速率更高的DDR4 x4或x8 DRAM 设计。利用Agilent W3636A BGA 内插器，工程师可针对2G以上容量的非堆叠 DDR3 x16 DRAM 进行探量。

随着记忆体的处理速度提高到 DDR4 的3.2Gb/s资料速率，工程师在设计应用于伺服器和嵌入式装置的新一代记忆体系统时，面临着极大的挑战。准确的探量和讯号撷取成为日益重要的关键要素，以进行新设计除错和验证。

新的内插器解决方案可以直接存取 DDR4 x4 或 x8 DRAM BGA 焊球，如此既可确保低负载，又能尽量减少对嵌入式系统设计讯号完整性的影响。该探棒适用于现有的设计，可省下预先规划的时间并且避免重新设计。另外，两套新的内插器解决方案可与全球最快的Agilent U4154A 逻辑分析仪系统搭配使用，后者提供高达 4Gb/s 的状态速度和高达 2.5GHz 的触发序列速度。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示：“我们的客户需要使用准确度更高的探量工具，以增强其新一代记忆体系统的资料速率并且降低功耗。藉由搭配使用 DDR4 BGA 内插器、 E5849A 探棒和 U4154A 逻辑分析仪系统，工程师可测试资料速率远远超出目前2400 Mb/s速率的 DDR4 记忆体。”

W3630A 系列 DDR3 BGA 探棒，可搭配使用示波器、逻辑分析仪以及 U4154A逻辑分析系统，以便执行资料速率高达2400 Mb/s的实体层和功能测试。

安捷伦DDR3/4测试解决方案的特色包括：

　　．B4622B DDR2/3/4和LPDDR/2/3协定相符性测试和分析工具套件结合4种不同的软体工具，让工程师能利用功能协定相符性检查软体、自动化实体位址触发设定工具，以及汇流排统计资讯和位址存取直方图，进行整体系统效能总览测试。有了这些工具，记忆体设计工程师可大幅缩短除错时间，并提高DDR设计验证工作效率

　　．B4621B DDR2/3/4协定解码器软体可将所撷取的讯号转译成容易理解的汇流排资讯，以显示相关资料丛发。该软体可以解码有效的读写指令，使其包含列地址和栏位址，以及与指令相关的完整资料丛发。B4621B汇流排解码软体可以利用预设的DDR2、DDR3或DDR4探量配置或DDR设定辅助工具的关键系统属性，加速对DDR2、DDR3 或DDR4汇流排讯号进行解码。

　　 ．DDR视图扫描/视图定位软体提供独特的视图扫描功能，可自动确定每个单独通道上视图中时间和电压的取样点，以获得最高的取样可靠度。DDR眼扫描显示功能可协助使用者深入分析汇流排讯号完整性，并且对相同条件扫描到的所有讯号进行定性比较。

　　．DDR 设定辅助工具透过一系列的简短问题和下拉式选单，引导使用者在DDR2/3/4/或LPDDR2/3/4量测过程中，进行状态模式量测中的各项设定。

　　．DDR 配置程式设立工具是安捷伦 DDR 设定辅助和视图定位软体套件中的新工具，可协助工程师根据 DDR / LPDDR 设定中所使用的客制探量解决方案来定义接脚布局，然后根据接脚资讯设立 XML 设定档。

U4154 逻辑分析模组是多功能模组，具有高达4 GT/s的状态速度和2.5 GHz触发序列速度，让工程师能够信心十足地触发并撷取DDR4 3.2 Gb/s讯号。如与全新的DDR4探量解决方案、B4621B解码器，以及B4622B相容性测试软体工具搭配使用，该模组可提供记忆体产业所需的完整测试功能，有助于进行系统整合。

Agilent DDR4 x4 /x8 DRAM和W3636A DDR3 x16 DRAM 探量解决方案现已开放订购。全系统 U4154A 逻辑分析仪均适用于探量 DDR3 DRAM 。