爱德万测试针对新一代NAND快闪记忆体预烧测试机

半导体测试设备供应商爱德万测试（Advantest）推出最新一代B6700系列记忆体预烧测试机的两组机种。B6700L和B6700S型号机种不但可降低测试成本，同时提高了伺服务器和行动数据储存应用环境的NAND快闪记忆体测试能力。
爱德万测试记忆体事业体副总Takeo Miura指出，借由扩充B6700系列产品的广度，为全球市场提供了更大的灵活性，以满足未来几年NAND快闪记忆体三倍需求的增长量 ，新推出的两套大批量测试解决方案，将帮助客户从投资中获得更多回报，并保持与现有生产网路连接之便利性。
系列中的初始机种，也就是近期发布之B6700D，设计上着重于平行操作, 通过预烧期间NAND快闪记忆体设备的功能评估，新一代记忆体装置之测试成本将大幅降低。与之前的系列产品相比，本系统的许多关键功能增加一倍，其中包括两倍的输入通道和电源容量以及双槽式设计。
新型B6700L测试机与B6700D相同的环境结构，并能适应更宽广的温度范围。设备能够在-40°C~150°C的范围内以0.1°C的增量进行温度控制测试，本系统适用于可靠性测试和汽车设备测试。B6700L可同时测试多达12组B6700D相容特性的预烧板(BIB)和测试程序。
新的零占用空间B6700S系统针对NAND快闪记忆体提供极低成本的测试解决方案，同时提供与其系列机种相同功能。B6700S可提供B6700D的单元化功能，并嵌入用于单晶圆等级测试的多晶圆探测系统中, 避免在实验室或生产环境中因占用空间所导致之相关成本。
B6700产品系列的所有机种皆使用相同的测试机板与操作系统，从而实现使用相容性。支援故障区块记忆体BBM、通用缓冲记忆体UBM和资料样式记忆体DPM功能以启动NAND设备测试。新上市的B6700L和B6700S测试机，计划在2019年第一季度开始发货。